X-Strata 920 膜厚測試儀

桌上型X射線膜厚儀

X-Strata 920

    • 產品類別:XRF膜厚檢測設備
    • 主要功能:各種鍍層膜厚量測

應用產業:PCB產業 其它產業 塗鍍層產業 緊固件產業

 

分類:
  • 高性能的 X 射線螢光光譜儀

快速、精確的分析:比例計數檢測器是和牛津儀器50瓦為聚焦 X 射線光管(X 射線光束強大、斑點小,樣品激發佳)相結合,提供最佳敏銳度

自動熱補償功能量測儀器溫度變化並做修正,確保穩定的測試結果

例行性的簡單跨速波譜校準,可自動檢查儀器性能 ( 如敏銳度 ) 並進行必要的修正

● 簡單的元素區分:通過次及射線濾波器分離元素的重疊光譜
● 性能最佳化,可分析的元素範圍大
● X-Sttrata 920 預設800多種容易選擇的應用參數/方法
● 卓越的長期穩定性

堅固耐用的設計
● 可在實驗室或生產線上操作
● 堅固的工業設計

簡單的校準設定
  當沒有標準片時,基本參數法 (FP) 提供簡單的定量分析結果
  經驗係數校準提供了最佳的準確性和結果可溯性,且只需少量標準片
  校準建立只需要幾分鐘
●  牛津儀器提供認證標準片 (A2LA 和 ISO/IEC 17025 認證) 確保準確性

避免不同操作的結果偏差
 雷射對焦
 簡單的”單鍵”操作將樣品聚焦
 固定聚焦高度:0.5″ (12.7mm)

可分析不同形狀和尺寸的樣品多個主要光束準直器

  彈性選擇準直器,最佳測試結果
  最佳靈敏度和分析速度
  最多可配6個準直器,提高應用能力

先進的系統安全性

●  為一般操作員設定簡單的、功能有限的用戶界面
●  管理員級別可進行系統維護
●  系統使用由操作者登錄
●  自動鎖定功能可防止未授權的操作

測試報告輸出

●  測量結果可轉出至 Excel 表格或客戶自訂表格
●  用戶可自訂統計分析格式
●  包括統計數據分析
●  截取樣品圖像到報告中

● 三種備置選項

標準檯面

● 開縫式測量室可測量相當尺寸範圍的樣品,從小零件到大片平板樣品,
        例如印刷電路板。樣品尺寸可超過儀器寬度。
● 用軟體控制來切換的分析測頭,快速且方便使用
● 經濟實用
● 可測樣品高度至33mm (1.3″)

加深檯面

● 加深檯面的測量室可測量相當尺寸範圍的零件,最大高度到 160mm
        (6.3″)
● 樣品托盤可依樣品高度不同選擇四種定位,確保樣品方便測量
● 開縫式測量室可測量大片平板樣品,例如印刷電路板,其尺寸可超過儀
        器寬度。

自動檯面

● 電動臺面可執行自動化量測以確保最高產能及無看管操作
● 滑鼠控制使得精確定位零件測量點更加容易
● 開縫式測量室可測量大片平板樣品,例如印刷電路板
● 檯面尺寸:56mm (22″) Dx61mm (24″) W

1. 將樣品放在樣品台上
● 非破壞式分析:無須樣品準備
● 開放式測量室方便放置樣品
● 超大樣品台方便大面積樣品量測
2. 單鍵完成影像對焦
● 單鍵自動雷射對焦,沒有人為操作偏差
● 高解析度和高放大倍率的彩色相機,畫面清晰,測試點精準定位
● 自動操作,利用可編程 XY 樣品台 (選配) 和Z軸執行單次和多次分析操作
● 簡單快速的多點分析:客戶可已預設分析參數
3. 單鍵測量
● 幾秒內顯示結果
● 保存、列印及傳輸結果
● 使用預設或客戶自訂的生產報告,步驟簡單
● 測試結果可由單鍵轉到 Excel 表格
 ( 結果)